日本電信電話公社（現NTT）は戦後、世界に先駆けて通信網に真空管に代わって半導体シリコントランジスタを導入した。以後、多くの高信頼半導体部品を開発し、通信システムの高性能化・高信頼化を実現してきた。本書は、システム側から要求された半導体部品の信頼度を実現していく経緯を具体的に記録したものである。同時に、現場で運用中の通信機器のフィールドデータを可能な限り発掘・整理し、それに基づく故障率予測値を米軍規格などとも比較して現在の半導体部品の信頼性レベルを推定する考え方を提示。また、ULSIやレーザなどでの摩耗故障モードの解析例などを収載。